Desarrollan patrones y métodos para medir nanomateriales.

Con el objetivo de atender de manera sistemática las necesidades metrológicas del país, actuales y previsibles, en soporte a las nanociencias y para el aprovechamiento de las nanotecnologías, El Centro Nacional de Metrología (Cenam) implementó el Programa de Metrología para las Nanotecnologías (Prometnano).

Norma González Rojano, coordinadora científica de la Dirección General de Metrología de Materiales del Cenam, comentó en entrevista con CONACyT que México no es ajeno del desarrollo tecnológico a nivel mundial, la comunidad científica mexicana de investigación, desarrollo e innovación ha estado muy activa desde hace más de un década en el área de las nanotecnologías, aunque su volumen es aún insuficiente para aprovechar a plenitud sus beneficios, por lo que, aún no existe todavía un sistema de medición establecido en México confiable y uniforme para atender mediciones a nivel de la nanoescala, por ello el Cenam implementó el Prometnano, que fue aprobado por el consejo directivo a finales de 2013, y que está conformado por un grupo de trabajo transversal a las especialidades de las cuatro direcciones generales del Cenam.

Con respecto a los proyectos que están desarrollando, en Prometnano se desarrollán 4 proyectos,  uno de ellos enfocado en la mejora y desarrollo de nuevos instrumentos y dispositivos de medida, además de otros tres en el desarrollo de patrones y métodos de medida para la nanoescala. El primero de ellos busca establecer trazabilidad del nanómetro al metro. En este proyecto participan las direcciones generales de Mecánica y Física.

En una primera etapa, se está trabajando en un microscopio de fuerza atómica metrológico, que tendrá la tarea de evaluar aquellos patrones que se desarrollen en el Cenam, en colaboración con otras instituciones de investigación, para la medición de nanomateriales. Buscamos que, por medio de este equipo, se cuente con trazabilidad al metro.

El proyecto se está realizando en la Dirección de Metrología Dimensional, a cargo de su director Miguel Ramón Viliesid Alonso y participa como responsable del proyecto el ingeniero Eduardo Francisco Herrera Martínez; por parte de la Dirección General de Física, está el doctor Héctor Alfonso Castillo Matadamas. Además, se firmó un convenio de colaboración con el Centro de Investigación y de Estudios Avanzados (Cinvestav) del Instituto Politécnico Nacional (IPN), unidad Querétaro, a través del doctor Juan Muñoz Saldaña con quien se estará trabajando.

El tercer proyecto está dirigido a la metrología para espectroscopía Raman, que es una técnica que se utiliza para la caracterización de nanomateriales. Hay una iniciativa internacional propuesta por varios institutos nacionales de metrología (INM) que tiene como fin darle un mayor impulso en el uso de esta técnica por parte de la industria y organismos reguladores.

En el cuarto proyecto estamos trabajando en polímeros nanocompuestos de matriz polimérica, con la intención de desarrollar materiales de referencia y protocolos de medida para caracterizar nanomateriales, antes y después de adicionarse a los polímeros, así como las propiedades de los polímeros conteniendo materiales en la nanoescala.

Con información de CONACyT

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